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■論文No. 3-128
■ページ数 1ページ
■発行日
2007/03/15
■タイトル

ナノ領域温度計測用マイクロシステム -コンセプトと作製プロセス-

■タイトル(英語)

Concept and fabrication process of microsystem for nano area temperature measurement

■著者名 田中 克洋(東北大学),桑野 博喜(東北大学),長澤 純人(東北大学)
■著者名(英語) Katsuhiro Tanaka(Tohoku University),Hiroki Kuwano(Tohoku University),Sumito Nagasawa(Tohoku University)
■価格 会員 ¥220 一般 ¥440
■書籍種類 全国大会
■グループ名 【全国大会】平成19年電気学会全国大会論文集
■本誌掲載ページ ページ
■キーワード 焦電素子|PZT|SThM|走査型熱顕微鏡
■要約(日本語) 走査型熱顕微鏡(Scanning thermal microscopy (SThM))は,熱電対等を集積化させた原子間力顕微鏡プローブを用いる,ナノ領域の温度・熱エネルギ計測技術である.本研究では,従来のSThM の持つプローブ?試料間の熱伝導等の問題を解決する為,微小開口と焦電素子を集積化したプローブによる新しいSThM 計測を提案する.実際に,焦電体にチタン酸ジルコン酸鉛(Pb(ZrxTi(1-x))O3:PZT)を用いた焦電素子プローブをマイクロマシニング技術によって作製し,その焦電特性を評価した.赤外線LEDによる熱刺激を与えたところ,電流0.5pA を確認した.
■要約(英語)
■版 型 A4
■PDFファイルサイズ 632Kバイト
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