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| ■論文No. |
1340 |
| ■ページ数 |
67ページ |
■発行日
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2015/05/25 |
| ■タイトル |
電磁界逆散乱解析 |
| ■タイトル(英語) |
Electromagnetic Inverse Scattering Analysis |
| ■著者名 |
電磁界逆散乱解析調査専門委員会 |
| ■著者名(英語) |
Investigation R&D Committee on electromagnetic inverse scattering analysis |
| ■価格 |
会員 ¥2,494 一般 ¥3,564 |
| ■書籍種類 |
技術報告 |
| ■グループ名 |
【A】基礎・材料・共通部門 |
| ■本誌掲載ページ |
ページ |
| ■キーワード |
逆散乱解析，非破壊検査，トモグラフィ／Inverse scattering, nondestructive testing, tomography |
| ■要約(日本語) |
電磁波を対象物体に照射し，その対象物体からの散乱波を測定することにより，対象物体の位置，大きさ，形状，更に電気的特性を推定する逆散乱問題は地中，生体，構造物，食品などの内部を安全に非接触，非破壊，非侵襲で映像化する技術に密接に関係しているため，逆散乱解析に基づくイメージング法は対象物体の詳細な内部構造を高精度に可視化する有効な計測技術となり得る．ここ二十年でコントラストの高い散乱体に対する様々な逆散乱解析手法が開発されてきており，その有効性は益々高まってきている．しかしながら逆散乱解析分野の研究者が我国に |
| ■要約(英語) |
Inverse scattering analysis determining the position, size, shape, and electrical properties of unknown objects by measuring scattered waves for a given incident wave has great potential applications in many fields such as medical imaging, geophysical ex |
| ■版 型 |
A4 |
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