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| ・会員価格 ¥550 |
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| ■論文No. |
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| ■ページ数 |
7ページ |
■発行日
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2019/11/01 |
| ■タイトル |
フルディジタル位相雑音計測におけるサンプリングクロックの位相雑音残留量に関する検討 |
| ■タイトル(英語) |
Study on Residual Phase Noise Effect of Sampling Clock in Fully Digital Phase Noise Measurement |
| ■著者名 |
今池 健（日本大学理工学部），梅津 友紀（日本大学大学院理工学研究科） |
| ■著者名(英語) |
Takeshi Imaike (College of Science and Technology, Nihon University), Yuki Umezu (Graduate School of Science and Technology, Nihon University) |
| ■価格 |
会員 ¥550 一般 ¥770 |
| ■書籍種類 |
論文誌(論文単位) |
| ■グループ名 |
【A】基礎・材料・共通部門 |
| ■本誌 |
電気学会論文誌A（基礎・材料・共通部門誌） Vol.139 No.11 （2019） 特集Ⅰ：電気電子工学関連分野における教育フロンティア 特集Ⅱ：イノベーションを創出する最新の計測技術2019
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| ■本誌掲載ページ |
625-631ページ |
| ■原稿種別 |
論文／日本語 |
| ■電子版へのリンク |
https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/139/11/139_625/_article/-char/ja/
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| ■キーワード |
位相雑音計測，相互相関，クロススペクトル，ディジタルダウンコンバージョン phase noise measurement，cross-correlation，cross-spectrum，digital down conversion |
| ■要約(日本語) |
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| ■要約(英語) |
In this paper, we examined the phase noise residual effect of sampling clock in fully digital phase noise measurement. When measuring the phase noise of the oscillator, it is necessary to prepare a reference oscillator (REF) in addition to the DUT. Although the frequency of the DUT and REF is the same in the phase noise measurement using the conventional PLL, the frequency of the DUT and the REF is different because the PLL is not used in the fully digital phase noise measurement. In particular, it is clarified that fatal measurement error occurs when the frequency of the measured oscillator and the reference oscillator are different. |
| ■版 型 |
A4 |
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