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| ・会員価格 ¥550 |
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| ■論文No. |
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| ■ページ数 |
6ページ |
■発行日
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2020/02/01 |
| ■タイトル |
マイクロギャップ電極デバイスを用いたシリカ/エポキシ界面の破壊経路の直接観察 |
| ■タイトル(英語) |
Direct Observation of Dielectric Breakdown Path at Silica/Epoxy Interface with a Micro-gap Electrode Device |
| ■著者名 |
三川 莉奈（早稲田大学理工学術院），大西 拓弥（早稲田大学理工学術院），高橋 滉平（早稲田大学理工学術院），富田 基裕（早稲田大学理工学術院），武良 光太郎（東芝三菱電機産業システム（株）），中村 隆央（東芝三菱電機産業システム（株）），吉満 哲夫（東芝三菱電機産業システム（株）），今井 隆浩（東芝インフラシステムズ（株）），渡邉 孝信（早稲田大学理工学術院） |
| ■著者名(英語) |
Rina Sankawa (Waseda University), Takuya Onishi (Waseda University), Kohei Takahashi (Waseda University), Motohiro Tomita (Waseda University), Kotaro Mura (Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation), Takahiro Nakamura (Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation), Tetsuo Yoshimitsu (Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation), Takahiro Imai (Toshiba Infrastructure Systems & Solutions Corporation), Takanobu Watanabe (Waseda University) |
| ■価格 |
会員 ¥550 一般 ¥770 |
| ■書籍種類 |
論文誌(論文単位) |
| ■グループ名 |
【A】基礎・材料・共通部門 |
| ■本誌 |
電気学会論文誌A（基礎・材料・共通部門誌） Vol.140 No.2 （2020） 特集：放電研究の最新動向
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| ■本誌掲載ページ |
64-69ページ |
| ■原稿種別 |
論文／日本語 |
| ■電子版へのリンク |
https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/140/2/140_64/_article/-char/ja/
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| ■キーワード |
ナノコンポジット，シリカ，界面，電気トリー，絶縁破壊，SEM nano-composite，silica，interface，electrical treeing，dielectric breakdown，SEM |
| ■要約(日本語) |
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| ■要約(英語) |
We develop a micro-gap electrode device on quartz substrate to investigate the dielectric breakdown resistance on constrained layer of silica/epoxy interface. After application of stress, the device is cut at the middle of the micro-gap by laser dicing to observe the cross-section, and the cross-section shows where the breakdown occurs in the vicinity of the silica/epoxy interface at sub-micron scale. These results give us a clue to understand the effect of nano-fillers on the dielectric breakdown of nano-composite materials. |
| ■版 型 |
A4 |
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