| ■論文No. |
PE23076,PSE23082,SPC23132 |
| ■ページ数 |
6ページ |
■発行日
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2023/03/03 |
| ■タイトル |
チョッパ回路連続動作時におけるIGBTのVCE(sat)と温度プロファイルの測定 |
| ■タイトル(英語) |
Experimental measurement of VCE(sat) and temperature profile in an IGBT during continuous chopper circuit operation |
| ■著者名 |
原 幹太(九州工業大学),長谷川 一徳(九州工業大学),宍戸 信之(近畿大学),齋藤 渉(九州大学),二宮 保(NPERC-J) |
| ■著者名(英語) |
Kanta Hara(Kyushu Institute Technology),Kazunori Hasegawa(Kyushu institute of Technology),Shinsuke Shishido(Kindai University),Wataru Saito(Kyushu University),Tamotu Ninomiya(NPERC-J) |
| ■価格 |
会員 ¥220 一般 ¥330 |
| ■書籍種類 |
研究会(論文単位) |
| ■グループ名 |
【B】電力・エネルギー部門 電力技術/【B】電力・エネルギー部門 電力系統技術/【D】産業応用部門 半導体電力変換合同研究会 |
| ■本誌 |
2023年3月6日-2023年3月7日電力技術/電力系統技術/半導体電力変換合同研究会-4
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| ■本誌掲載ページ |
37-42ページ |
| ■原稿種別 |
日本語 |
| ■電子版へのリンク |
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| ■キーワード |
ＩＧＢＴ|ＶＣＥ（ｓａｔ）|劣化診断|温度プロファイル|連続運転試験|IGBT|VCE(sat)|degradation diagnosis|thermal profile|continuous operation |
| ■要約(日本語) |
本論文ではIGBTの劣化診断を目的として、チョッパ回路連続動作におけるVCE(sat)測定環境を構築した。小型・低消費電力の特長を持つIoT開発キット「Leafony Basic kit2」を用いてVCE(sat)検出回路を作製した。チョッパ回路のIGBTモジュールにかかる電流・周波数を変化させ、各損失条件でのVCE(sat)から、IGBTモジュールの温度プロファイルを算出した。この温度プロファイルを用いることでIGBTの劣化時の熱抵抗計算が実現し、寿命予測が可能となる。 |
| ■要約(英語) |
This paper presents VCE(sat) measurement of an IGBT module during continuous operation of a chopper circuit, which employs a compact and low-power IoT platform “Leafony” . Experimental results of VCE(sat) with different power losses provided a thermal profile of the IGBT module, which will enable lifetime estimation. |
| ■版 型 |
A4 |
| ■PDFファイルサイズ |
2,018Kバイト |
