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■論文No. 1-50
■ページ数 2ページ
■発行日
2022/08/30
■タイトル

IGBTのゲート電圧波形からボンディングワイヤ剥がれを検出する方法

■タイトル(英語)

Method for Detecting Bond Wire Lift-off from IGBT Gate Voltage Waveforms

■著者名 矢野 広気(東京大学),畑 勝裕(東京大学),高宮 真(東京大学)
■著者名(英語) Hiroki Yano (The University of Tokyo),Katsuhiro Hata (The University of Tokyo),Makoto Takamiya (The University of Tokyo)
■価格 会員 ¥220 一般 ¥440
■書籍種類 部門大会
■グループ名 【D】2022年電気学会産業応用部門大会講演論文集
■本誌掲載ページ ページ
■キーワード IGBT|ゲート電圧|ボンディングワイヤ|剥がれ|IGBT|Gate voltage|Bond wire|Lift-off
■要約(日本語)
■要約(英語)
■版 型 A4
■PDFファイルサイズ 816Kバイト
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