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| ■論文No. |
ECT17111 |
| ■ページ数 |
6ページ |
■発行日
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2017/10/12 |
| ■タイトル |
CMOSイメージセンサーカラムADC回路技術の歴史と課題 |
| ■タイトル(英語) |
Consideration of CMOS Image Sensor Column ADC Design History and Issues |
| ■著者名 |
岩田 公一郎(キヤノン),斉藤 和宏(キヤノン),板野 哲也(キヤノン),大村 昌伸(キヤノン),中村 恒一(キヤノン),熊谷 知也(キヤノン),吉田 大介(キヤノン),新谷 悟(キヤノン) |
| ■著者名(英語) |
Koichiro Iwata(Canon Inc.),Kazuhiro Saito(Canon Inc.),Tetsuya Itano(Canon Inc.),Masanobu Oomura(Canon Inc.),Koichi Nakamura(Canon Inc.),Tomoya Kumagai(Canon Inc.),Daisuke Yoshida(Canon Inc.),Satoru Shingai(Canon Inc.) |
| ■価格 |
会員 ¥220 一般 ¥330 |
| ■書籍種類 |
研究会(論文単位) |
| ■グループ名 |
【C】電子・情報・システム部門 電子回路研究会 |
| ■本誌 |
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| ■本誌掲載ページ |
ページ |
| ■原稿種別 |
日本語 |
| ■電子版へのリンク |
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| ■キーワード |
カラムＡＤＣ|ＣＭＯＳイメージセンサー|共通リファレンス回路|ＡＣクロストーク|Column ADC|CMOS Image Sensor|Common reference circuit|AC crosstalk |
| ■要約(日本語) |
かつての低集積なＢＪＴアナログ時代は、素子数の制約の中でも数々のＡ／Ｄ変換器が考案設計されてきた。その後ＣＭＯＳミクスドシグナル設計による、高集積性を生かした設計手法が長年生かされてきたが、ＣＭＯＳイメージセンサーにおける需要を満たすカラムＡ／Ｄはその並列集積故に素子数制約の中での設計が要求されるようになり、独特の課題解決を強いられることになった。 |
| ■要約(英語) |
In history, ADC design on BJT Process used to be forced to minimize the scale of circuitry due to the low density integration on die. In CMOS design, the design has been taken advantage in the high density integration with large circuitry scale of the architecture. Now Column ADC of CMOS Image sensor is going backforward due to the parallelized circuitry and small circuitry space. As the result, the design requires the unique solution against the current CMOS mixed-signal solution. |
| ■版 型 |
A4 |
| ■PDFファイルサイズ |
1,313Kバイト |
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