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| ■論文No. |
1549 |
| ■ページ数 |
84ページ |
■発行日
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2023/06/09 |
| ■タイトル |
電子デバイスに対するESD過渡電磁界の影響評価 |
| ■タイトル(英語) |
Evaluating the effects of ESD transient electromagnetic fields on electronic devices |
| ■著者名 |
電子デバイスに対するESD過渡電磁界の影響評価調査専門委員会 |
| ■著者名(英語) |
Compiled by the Investigating Expert Committee for Evaluating the Effects of ESD Transient Electromagnetic Fields on Electronic Devices |
| ■価格 |
会員 ¥5,128 一般 ¥7,326 |
| ■書籍種類 |
技術報告 |
| ■グループ名 |
【A】基礎・材料・共通部門 |
| ■本誌掲載ページ |
ページ |
| ■キーワード |
静電気放電（ESD）、電磁妨害、過渡電磁界、イミュニティ、電子回路影響／Electrostatic Discharge (ESD), Electromagnetic Interference, Transient Electromagnetic Fields, Immunity, Effects on electronic circuits |
| ■要約(日本語) |
静電気放電（ESD）現象及び電気接点の開閉に伴う放電現象は，再現性に乏しくまたその特性において解明されていない現象は多くあり，これらの現象は，条件によってギガヘルツ帯の電磁波を発生する．特にESDについては，温度，湿度などの環境条件により気中での放電現象の振る舞いが異なることは定性的には把握されているが，放電が発生する物体の形状や表面状態，帯電物体の移動速度など多くのパラメータが存在し，これらの要素が複雑な関係に組み合わさり、定量的な解析では十分な段階ではない。
このESD現象及び電子デバイスの電磁両立性（EMC）問題を解決するために、電磁環境技術委員会に設置された「電子デバイスに対するESD過渡電磁界の影響調査調査専門委員会」（2017年10月〜2020年7月）では主に、(1) 放電現象とその発生電磁界の測定及び測定技術の検証、(2) 国際規格のESD試験における接触放電及び気中放電の課題抽出とその機構解明、(3) ESD現象で影響される電子回路の電圧測定技術の検証、(4) 半導体デバイスの影響とその保護に関する調査、(5) 意図的電磁界による電子回路のセキュリティ課題の調査等について検討を行った。本報告は、調査専門委員会における調査結果をまとめたものである。 |
| ■要約(英語) |
The electrostatic discharge (ESD) phenomenon and the discharge phenomenon relate with a switching motion of electrical contacts are poor reproducibility and characteristics of many phenomena have not been clarified. These phenomena generate gigahertz-band electromagnetic waves depending on the several conditions. Especially in ESD, it is qualitatively understood that the behavior of discharge phenomena in the air changes depending on environmental conditions such as temperature and humidity.
There are many parameters such as movement speed, and these elements are combined complex, and quantitative analysis has not been done sufficiently.
In order to solve the ESD phenomenon and the electromagnetic compatibility (EMC) problem of electronic devices, the "Investigating Expert Committee for Evaluating the Effects of ESD Transient Electromagnetic Fields on Electronic Devices" was established under the Technical Committee of electromagnetic Compatibility (October 2017 - July 2020). Mainly examined the following investigating items in the committee.
(1) Measurement of discharge phenomenon and generated electromagnetic field, and verification of measurement technology
(2) Extraction of issues of contact discharge and air discharge in international standard ESD test and clarification of its mechanism
(3) Verification of voltage measurement techniques for electronic circuits affected by ESD events
(4) Investigation on the impact of semiconductor devices and their protection
(5) Investigation of electronic circuit security issues caused by intentional electromagnetic fields
This report summarizes the results of the investigation by the committee. |
| ■版 型 |
A4 |
| ■PDFファイルサイズ |
12Mバイト |
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