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・会員価格 ¥550 |
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■論文No. |
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■ページ数 |
6ページ |
■発行日
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2020/02/01 |
■タイトル |
マイクロギャップ電極デバイスを用いたシリカ/エポキシ界面の破壊経路の直接観察 |
■タイトル(英語) |
Direct Observation of Dielectric Breakdown Path at Silica/Epoxy Interface with a Micro-gap Electrode Device |
■著者名 |
三川 莉奈(早稲田大学理工学術院),大西 拓弥(早稲田大学理工学術院),高橋 滉平(早稲田大学理工学術院),富田 基裕(早稲田大学理工学術院),武良 光太郎(東芝三菱電機産業システム(株)),中村 隆央(東芝三菱電機産業システム(株)),吉満 哲夫(東芝三菱電機産業システム(株)),今井 隆浩(東芝インフラシステムズ(株)),渡邉 孝信(早稲田大学理工学術院) |
■著者名(英語) |
Rina Sankawa (Waseda University), Takuya Onishi (Waseda University), Kohei Takahashi (Waseda University), Motohiro Tomita (Waseda University), Kotaro Mura (Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation), Takahiro Nakamura (Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation), Tetsuo Yoshimitsu (Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial Systems Corporation), Takahiro Imai (Toshiba Infrastructure Systems & Solutions Corporation), Takanobu Watanabe (Waseda University) |
■価格 |
会員 ¥550 一般 ¥770 |
■書籍種類 |
論文誌(論文単位) |
■グループ名 |
【A】基礎・材料・共通部門 |
■本誌 |
電気学会論文誌A(基礎・材料・共通部門誌) Vol.140 No.2 (2020) 特集:放電研究の最新動向
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■本誌掲載ページ |
64-69ページ |
■原稿種別 |
論文/日本語 |
■電子版へのリンク |
https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/140/2/140_64/_article/-char/ja/
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■キーワード |
ナノコンポジット,シリカ,界面,電気トリー,絶縁破壊,SEM nano-composite,silica,interface,electrical treeing,dielectric breakdown,SEM |
■要約(日本語) |
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■要約(英語) |
We develop a micro-gap electrode device on quartz substrate to investigate the dielectric breakdown resistance on constrained layer of silica/epoxy interface. After application of stress, the device is cut at the middle of the micro-gap by laser dicing to observe the cross-section, and the cross-section shows where the breakdown occurs in the vicinity of the silica/epoxy interface at sub-micron scale. These results give us a clue to understand the effect of nano-fillers on the dielectric breakdown of nano-composite materials. |
■版 型 |
A4 |
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