HOMEご利用手順商品サンプルご利用規約お支払いご注文進行確認Q&A、お問い合せカートを見る
電気学会 電子図書館
電気学会HPへ
 HOME > 同研究会の論文誌(論文単位) > 文献詳細
*商品について
表紙はついていません(本文のみ中綴じ製本です)。
号単位でも購入できます。
すべてモノクロ印刷です。
Extended Summaryはついていません。

・会員価格 ¥550
・一般価格 ¥770
カートに入れる
こちらはBookPark「電気学会 電子図書館(IEEJ Electronic Library)」による文献紹介ページです。
会員ログイン
電気学会会員の方はこちらから一旦ログインのうえ、マイページからお入りください。
会員価格で購入することができます。
非会員の方はログインの必要はありません。このまま お進みください。
■論文No.
■ページ数 7ページ
■発行日
2023/03/01
■タイトル

MOD法により作製したV1-xCrxO2薄膜の特性評価

■タイトル(英語)

Evaluation of V1-xCrxO2 Thin Films Fabricated by MOD

■著者名 落合 佑多(防衛大学校電気電子工学科),河原 正美((株)高純度化学研究所),佐村 剛((株)高純度化学研究所),立木 隆(防衛大学校電気電子工学科),内田 貴司(防衛大学校電気電子工学科)
■著者名(英語) Yuta Ochiai (National Defense Academy), Masami Kawahara (Kojundo Chemical Laboratory Co., Ltd.), Tsuyoshi Samura (Kojundo Chemical Laboratory Co., Ltd.), Takashi Tachiki (National Defense Academy), Takashi Uchida (National Defense Academy)
■価格 会員 ¥550 一般 ¥770
■書籍種類 論文誌(論文単位)
■グループ名 【A】基礎・材料・共通部門
■本誌 電気学会論文誌A(基礎・材料・共通部門誌) Vol.143 No.3 (2023)
■本誌掲載ページ 91-97ページ
■原稿種別 論文/日本語
■電子版へのリンク https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejfms/143/3/143_91/_article/-char/ja/
■キーワード 有機金属分解 (MOD) 法,二酸化バナジウム,ボロメータ薄膜   metal-organic decomposition (MOD),vanadium dioxide,bolometer thin film
■要約(日本語)
■要約(英語) Cr-doped vanadium dioxide, V1-xCrxO2 (x = 0-0.20), thin films were fabricated by metal-organic decomposition. From X-ray diffraction patterns of the films at room temperature, VO2(M2)(201) and VO2(M2)(201) diffraction peaks were observed for x = 0.03-0.20, while a VO2(M1)(011) peak was observed for x = 0-0.01, where M1 and M2 represent different monoclinic structures of VO2. Moreover, all the fabricated films showed a p-type conductivity, and the hole concentration in the films increased with increasing x. From R-T characteristics of the films at the temperature range from 20 to 90℃, abrupt resistance changes caused by the metal-insulator transition in VO2 with a hysteresis loop were gradually suppressed with increasing x; especially x≥0.15, they were completely suppressed, since the transition temperature of the film shifted to a temperature above 140℃. Relatively flat temperature dependence of the temperature coefficients of resistance (TCR) as high as -3.9%/K in the range of 20-90℃ was obtained for the V0.85Cr0.15O2 thin film. The TCR value of the film is almost same as that of a V0.75Ti0.25O2 thin film, whereas a resistivity of the former at room temperature is one order lower than that of the latter.
■版 型 A4
運営会社についてBookPark個人情報保護方針電気学会ホームページ
本サービスは電気学会がコンテンツワークス株式会社に委託して運営しているサービスです。
©Contents Works Inc.