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| ・会員価格 ¥550 |
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| ■論文No. |
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| ■ページ数 |
12ページ |
■発行日
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2021/01/01 |
| ■タイトル |
IoT時代のアナログ/ミクストシグナル回路テスト技術 |
| ■タイトル(英語) |
Testing Technologies for Analog/Mixed-Signal Circuits in IoT Era |
| ■著者名 |
小林 春夫（群馬大学），桑名 杏奈（群馬大学），魏 江林（群馬大学），築地 伸和（群馬大学），趙 宇杰（群馬大学） |
| ■著者名(英語) |
Haruo Kobayashi (Gunma University), Anna Kuwana (Gunma University), Jianglin Wei (Gunma University), Nobukazu Tsukiji (Gunma University), Yujie Zhao (Gunma University) |
| ■価格 |
会員 ¥550 一般 ¥770 |
| ■書籍種類 |
論文誌(論文単位) |
| ■グループ名 |
【C】電子・情報・システム部門 |
| ■本誌 |
電気学会論文誌C（電子・情報・システム部門誌） Vol.141 No.1 （2021） 特集：電子回路関連技術
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| ■本誌掲載ページ |
2023/01/12ページ |
| ■原稿種別 |
解説論文／日本語 |
| ■電子版へのリンク |
https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejeiss/141/1/141_1/_article/-char/ja/
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| ■キーワード |
アナログ回路テスト技術，ミクストシグナル回路テスト技術，テスト容易化設計，組み込み自己テスト，テスト容易化チップ外回路 analog circuit test，mixed-signal circuit test，design-for-test，built-in self-test，built-out self-test |
| ■要約(日本語) |
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| ■要約(英語) |
This paper reviews production testing issues for analog and mixed-signal SoC in IoT era for analog circuit designers, and also introduces research examples including authors' group research results in this area. Notice that production testing and measurement/characterization for ICs are similar but different, and this paper introduces the former. For IoT systems and automotive applications, analog and mixed-signal circuit testing is very important to realize their reliability at low cost, and there are a lot of technology challenges. Their overview including future technology challenges is described. |
| ■版 型 |
A4 |
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