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・会員価格 ¥330 |
・一般価格 ¥550 |
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こちらはBookPark「電気学会 電子図書館(IEEJ Electronic Library)」による文献紹介ページです。 |
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■論文No. |
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■ページ数 |
2ページ |
■発行日
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2021/01/01 |
■タイトル |
Laser SpeckleのためのUV光を用いた鏡面測定 |
■タイトル(英語) |
Polishing Surface Measurements by Laser-speckle Methods with Ultraviolet Wavelengths |
■著者名 |
馬 ホ?(Hangzhou Hikvision Digital Technology Co., Ltd.),王 景(東京都立大学大学院 システムデザイン研究科),渡部 泰明(東京都立大学大学院 システムデザイン研究科),佐藤 隆幸(東京都立大学大学院 システムデザイン研究科) |
■著者名(英語) |
Yunhao Ma (Hangzhou Hikvision Digital Technology Co., Ltd.), Jing Wang (Tokyo Metropolitan University), Yasuaki Watanabe (Tokyo Metropolitan University), Takayuki Sato (Tokyo Metropolitan University) |
■価格 |
会員 ¥330 一般 ¥550 |
■書籍種類 |
論文誌(論文単位) |
■グループ名 |
【C】電子・情報・システム部門 |
■本誌 |
電気学会論文誌C(電子・情報・システム部門誌) Vol.141 No.1 (2021) 特集:電子回路関連技術
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■本誌掲載ページ |
59-60ページ |
■原稿種別 |
研究開発レター/日本語 |
■電子版へのリンク |
https://www.jstage.jst.go.jp/article/ieejeiss/141/1/141_59/_article/-char/ja/
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■キーワード |
鏡面測定,Laser Speckle,UV光 polishing Surface Measurement,Laser Speckle,ultraviolet wavelengths |
■要約(日本語) |
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■要約(英語) |
A non mechanical scanning method is developed for mapping absolute vibrational patterns of a polishing surface piezoelectric device. In this paper, by improving the traditional Laser Speckle method, we first proved the method can measure the polished scattered light of the smooth surfaces. As a result, using 377nm of an ultraviolet laser device, the simulation of the polished surface was carried out to 45 from 10 degrees, and, moreover, the reflection coefficients found area of 35% or less by the measurements. |
■版 型 |
A4 |
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