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| ■論文No. |
7-042 |
| ■ページ数 |
2ページ |
■発行日
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2015/03/05 |
| ■タイトル |
太陽電池モジュールストリング第１?４象限I-Vカーブの評価 |
| ■タイトル(英語) |
I-V Characteristic Evaluation of Photovoltaic Modules String from First Quadrant to Fourth Quadrant |
| ■著者名 |
平田 陽一(諏訪東京理科大学),大野 智広(諏訪東京理科大学),中村 尚也(諏訪東京理科大学),二山 雄志(諏訪東京理科大学),林 孝浩(諏訪東京理科大学),細江 敏樹(諏訪東京理科大学) |
| ■著者名(英語) |
Youichi Hirata(Tokyo University of Science, SUWA),Tomohiro Ohno(Tokyo University of Science, SUWA),Naoya Nakamura(Tokyo University of Science, SUWA),Takeshi Niiyama(Tokyo University of Science, SUWA),Takahiro Hayachi(Tokyo University of Science, SUWA),Toshiki Hosoe(Tokyo University of Science, SUWA) |
| ■価格 |
会員 ¥220 一般 ¥440 |
| ■書籍種類 |
全国大会 |
| ■グループ名 |
【全国大会】平成27年電気学会全国大会論文集 |
| ■本誌掲載ページ |
ページ |
| ■キーワード |
太陽光発電|発電システム|太陽電池|I-Vカーブ|モジュールストリング |
| ■要約(日本語) |
筆者らは、太陽電池のI-V カーブをより正確に評価する手法として、第１象限から第4象限までを測定する手法を提案している。この手法を用いることで、I-V特性がより詳細に得られるという利点がある。本研究ではモジュールを直接接続し、その標準モジュールストリングの中に意図的に劣化モジュールを混ぜることで、特性全体にどのような影響を与えるかを検証した。この精度を確認することで、ストリングごとを定期的に測定することで、より正確な評価の可能性、更には劣化の初期段階での発見が確認できることを意図している。結果、ストリング全体におけるI-V カーブを評価することで、劣化の指標となる回路定数値の変化を確認できることが分かった。 |
| ■要約(英語) |
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| ■版 型 |
A4 |
| ■PDFファイルサイズ |
515Kバイト |
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