 |
| ・会員価格 ¥3,742 |
| ・一般価格 ¥5,346 |
|
|
| こちらはBookPark「電気学会 電子図書館（IEEJ Electronic Library）」による文献紹介ページです。 |
|
 |
 |
電気学会会員の方はこちらから一旦ログインのうえ、マイページからお入りください。
会員価格で購入することができます。
|
|
| 非会員の方はログインの必要はありません。このまま お進みください。 |
|
|
| ■論文No. |
1340 |
| ■ページ数 |
67ページ |
■発行日
|
2015/05/25 |
| ■タイトル |
電磁界逆散乱解析 |
| ■タイトル(英語) |
Electromagnetic Inverse Scattering Analysis |
| ■著者名 |
電磁界逆散乱解析調査専門委員会編 |
| ■著者名(英語) |
Investigation R&D Committee on electromagnetic inverse scattering analysis |
| ■価格 |
会員 ¥3,742 一般 ¥5,346 |
| ■書籍種類 |
技術報告 |
| ■グループ名 |
【A】基礎・材料・共通部門 |
| ■本誌掲載ページ |
ページ |
| ■キーワード |
逆散乱解析，非破壊検査，トモグラフィ／Inverse scattering, nondestructive testing, tomography |
| ■要約(日本語) |
電磁波を対象物体に照射し，その対象物体からの散乱波を測定することにより，対象物体の位置，大きさ，形状，更に電気的特性を推定する逆散乱問題は地中，生体，構造物，食品などの内部を安全に非接触，非破壊，非侵襲で映像化する技術に密接に関係しているため，逆散乱解析に基づくイメージング法は対象物体の詳細な内部構造を高精度に可視化する有効な計測技術となり得る．ここ二十年でコントラストの高い散乱体に対する様々な逆散乱解析手法が開発されてきており，その有効性は益々高まってきている．しかしながら逆散乱解析分野の研究者が我国に少ない現状を鑑みて，本報告書では国内外で提案されている多くの逆散乱解析法を網羅する代わりに，この分野に興味を持つ学生・研究者・技術者にとっての入門書となるように企画した．第１章は逆散乱解析を必要とする背景，目的及び内外の趨勢について述べた．第２章において逆散乱解析の性質及び解析に際して注意すべき事柄を述べた．逆散乱解析には，時間的に正弦波状に変化する電磁波を用いる周波数領域逆散乱解析とパルス状に変化する電磁波を用いる時間領域逆散乱解析がある．第３〜６章及び９章は周波数領域逆散乱解析法であり，第７章は周波数領域と時間領域の逆散乱解析法を組み合わせている．第８および１０章は時間領域逆散乱解析法である． |
| ■要約(英語) |
Inverse scattering analysis determining the position, size, shape, and electrical properties of unknown objects by measuring scattered waves for a given incident wave has great potential applications in many fields such as medical imaging, geophysical exploration, and nondestructive testing. Since various methods that are applicable to high-contrast inverse scattering problems have been developed in the last two decades, the inverse scattering analysis is becoming more important and useful. However, despite the importance of the inverse scattering analysis, there are not many Japanese researchers in this field. Considering this situation, we planned this review report to be an introductory guide to inverse scattering analysis for Japanese
students, researchers, and engineers who are interested in this field. Chapter 1 describes a background and recent trends in inverse scattering analysis. The properties of inverse problems, which is quite different from those of direct problems, are discussed in Chapter 2. There are two different approaches to solve inverse scattering problems. One is a frequency domain approach that uses continuous sinusoidal waves as incident waves, and the other is a time domain approach that uses pulsed waves. The frequency domain approaches
are described in Chapters 3-6 and 9, and the time domain approaches are in Chapters 8 and 10. In addition, a
combination technique of frequency and time domain approaches is also described in Chapter 7. |
| ■版 型 |
A4 |
| ■PDFファイルサイズ |
3,746Kバイト |
|
|
|
